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超聲波探傷儀名詞解釋二
日期：2024-07-30 04:55
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摘要：
超聲波探傷儀名詞解釋二
21. 檢測頻率：超聲檢測時所使用的超聲波頻率。通常為0.4 MHz ~15MHz。
21. 檢測頻率：超聲檢測時所使用的超聲波頻率。通常為0.4 MHz ~15MHz。
22. 回波頻率：回波在時間軸上進行擴展觀察所得到的峰值間隔時間的倒數。
23. 靈敏度：在超聲探傷儀熒光屏上產生可辨指示的*小超聲信號的一種量度。
24.靈敏度餘量：超聲探傷係統中，以一定電平表示的標準缺陷探測靈敏度與*大探測靈敏度之間的差值。
25.分辨力：超聲探傷係統能夠區分橫向、縱向或深度方向相距*近的一定大小的兩個相鄰缺陷的能力。
26.抑製：在超聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號（電或材料的噪聲），以突出較大信號的一種控製方法。
27. 閘門：為監控探傷信號或作進一步處理而選定一段時間範圍的電子學方法。
28. 衰減器：使信號電壓（聲壓）定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。
29. 信噪比：超聲信號幅度與*大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。
30. 阻塞：接收器在接收到發射脈衝或強脈衝信號後的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現象。
31. 增益：超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對數形式。以分貝表示。
32.距離波幅曲線（DAC）：根據規定的條件，由產生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個參量繪製的一組曲線。實際探傷時，可由測得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的當量尺寸。
33. 耦合：在探頭和被檢件之間起傳導聲波的作用。
34. 試塊：用於鑒定超聲檢測係統特性和探傷靈敏度的樣件。
35.標準試塊：材質、形狀和尺寸均經主管機關或權威機構檢定的試塊。用於對超聲檢測裝置或係統的性能測試及靈敏度調整。
36.對比試塊：調整超聲檢測係統靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料製成。
37.探頭：發射或接收（或既發射又接收）超聲能量的電聲轉換器件。該器件一般由商標、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護膜或楔塊組成。
38. 直探頭：進行垂直探傷用的探頭，主要用於縱波探傷。
39. 斜探頭：進行斜射探傷用的探頭，主要用於橫波探傷。