產品詳情
簡單介紹：
TT230膜厚儀采用電渦流測厚法，可以測量非磁性金屬基體上非導電層的厚度，可廣泛用於製造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。由於該儀器體積小，測頭與儀器一體化，*適用於工程現場測量。
詳情介紹：
TT230膜厚儀采用電渦流測厚法，可以測量非磁性金屬基體上非導電層的厚度，可廣泛用於製造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。由於該儀器體積小，測頭與儀器一體化，*適用於工程現場測量。
主要功能
可進行零點校準及二點校準。
可對測頭進行基本校準。
設有五個統計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。可存貯和統計計算15個測量值。
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
自動關機功能。
刪除功能：對測量中出現的單次數據進行刪除，也可刪除存貯區內的**數據，以便進行新的測量。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。
主要技術指標
測量原理：渦流法
測量範圍：1～1250μm
測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二點校準）